本课程将系统学习集成电路的各种测试方法与技术，内容主要有集成电路测试原理（包括逻辑模拟与故障模拟、测试生成、可测性设计方法和技术、测试数据压缩技术等）和集成电路测试设备（包括集成电路测试验证系统、数字集成电路测试系统、RAM测试技术和测试系统、SOC测试系统等）两部分。通过本门课程的学习应使学生系统熟练的掌握集成电路的测试原理与方法，具备工程测试能力。